Descrição
Dados de microscopia de varredura por sonda e medições 2D ficam mais fáceis de visualizar, processar e analisar. Ajuda pesquisadores a trabalhar com AFM, STM, MFM, SNOM/NSOM, perfilometria e datasets científicos semelhantes.
A análise científica depende de calibração, escolhas de pré-processamento e metadados do instrumento. Valide métodos antes de usar imagens ou medições processadas em publicações ou decisões de engenharia.